FT成品测试能力
測 试 机 :Advantest /Chroma/AccoTest/Juno/PowerTech/AMB/Qstar
分 选 机 :JHT/ASM/SRM/SHF/SKD/Vitrox/ICOS
溫度範圍 :20℃~135℃
封裝類型 :LGA,QFN,QFP,BGA,DFN 等
特殊規格 :可支持超小脚距、超薄封装、超高频段、MEMS 等特殊产品实验及量产
測試產品 :数字、模拟、数模混合、射频、高速接口、无线连接等各类集成电路
CP晶圆测试能力
測 试 机 :Advantest /Chroma/AccoTest/Juno/PowerTech/AMB/Qstar
探 针 台 :TSK/长川
溫度範圍 :20℃~135℃
晶圓規格 :6寸,8寸,12寸
特殊規格 :可支持薄片,破损片等特殊测试
測試產品 :数字、模拟、数模混合、射频、高速接口、无线连接等各类集成电路